Uygulama Çözümleri
Yükseklik/Adım
Yükseklik/Adım Ölçümü İçin Doğru Çözümü Bulma
Yüksekliği ölçmenin en iyi yolunu ararken hedefin şekli, ölçüm sisteminin türü ve kurulum yeri dahil olmak üzere dikkat edilmesi gereken pek çok önemli faktör vardır. İhtiyaçlarınızı tam olarak karşılamayan ekipmanın seçilmesi, üretim sırasında hassasiyetin düşmesine ve de çalışma saatlerinin artmasına neden olabilir. Dolayısıyla bu sayfa, ölçümü güvenilir bir şekilde gerçekleştirebilmenin en iyi yolunu bulmanıza yardımcı olabilmek için hazırlanmıştır.
Profil Yükseklik Farkı Kontrolü
İdeal ölçüm sistemini seçmek için ölçüm hakkında bilgi ve ipuçları içeren mutlaka okunması gereken bir kılavuz!
Bu kılavuzda, ölçüm sistemlerinin tanıtılmasının yanı sıra kalınlık, dış çaplar, şekil ve daha fazlasını ölçmek için kullanılabilecek en iyi yöntemler ayrıntılarıyla anlatılmıştır.
Yükseklik/Adım Ölçümü
Yükseklik/Adım ölçümü için en uygun yöntemi ve en uygun ekipmanı bulabilmek adına aşağıdaki örneklere bakabilirsiniz.
Tek noktadan yükseklik ölçümü
Uygulama örneği: Dispenserlerin (otomat makinesi) yükseklik ölçümü
Tek bir noktanın ölçümünün düzgün bir şekilde yapılabilmesi için yansıtıcı lazer yer değiştirme (deplasman) algılayıcıları kullanılmalıdır.
Lazerin geldiği yere olan uzaklık yüksek hassasiyetle ölçülür.
Önemli noktalar
Algılayıcılar arasında iletişim sağlayarak veya taramanın tek bir algılayıcıyla hedef üzerinden yapılmasıyla farklı konumlardan yükseklik ölçümü yapılabilir.
Doğrusallık：±0.2μm’den
Eş odaklı Yer Değiştirme Algılayıcısı
▸ CL Series
1 nm’lik ultra yüksek çözünürlük
2 mm mikro işlem algılayıcı kafası
▸ SI Serisi
Birbirine yakın iki farklı ölçüm konumu kullanarak yukarıdan yükseklik/adım yüksekliği ölçümü
Uygulama örneği: Konnektör terminallerinin yükseklik ölçümü
Lazer çizgisinin vurduğu yerde bir yüzey profili elde edilir. Bu sayede, adım (basamak?) yüksekliği gibi bağıl ölçümler elde edilir.
Ölçüm noktası ve referans noktası arasındaki yükseklik farklarının ölçümü.
Önemli noktalar
Algılayıcı kafası hizalama yapabilme işlevine sahip olduğundan, hedef eğik bir durumda olsa bile adım/basamak doğru bir şekilde ölçülebilir.
Hat içi çok noktalı ölçüm yapabilmesinin yanı sıra 64.000 görüntü/sn ile dünyanın en hızlı örnekleme hızına sahiptir.
▸ LJ-X Serisi
▸ CL Serileri
Birbirine yakın iki farklı ölçüm konumu kullanarak yandan yükseklik/adım yüksekliği ölçümü
Uygulama örneği: Mil uçları arasındaki kam mili (eksantrik mil) çapı
Hedefin görüntüsü yansıtılır ve tanımlanan iki özellik arasındaki adım/basamak yüksekliği hesaplanır.
Önemli noktalar
Mil eğik durumda olsa bile, hizalama ayarı işlevi kullanıldığında adım/basamak düzgün bir şekilde ölçülebilir. Ölçümler, hedef yüzeyinin renginden etkilenmez.
▸ TM-X Serisi
Birbirinden uzak iki ölçüm yeri kullanarak yükseklik/basamak yüksekliği ölçümü
Uygulama örneği: Araçların yükseklik ölçümü
Tek bir noktanın yüksekliğini düzgün bir şekilde ölçebilmek için yansıtıcı bir lazer yer değiştirme algılayıcısı kullanılmalıdır.
Lazerin geldiği yere olan uzaklık yüksek hassasiyetle ölçülür.
Önemli noktalar
Algılayıcılar arasında iletişim sağlayarak veya taramanın tek bir algılayıcıyla hedef üzerinden yapılmasıyla farklı konumlardan yükseklik ölçümü yapılabilir.
Doğrusallık：±0.2μm’den
Eş odaklı Yer Değiştirme Algılayıcısı
▸ CL Serileri
1 nm’lik ultra yüksek çözünürlük
2 mm mikro işlem algılayıcı kafası
▸ SI Serileri
Yükseklik Ölçümü Sırasında Alınması Gereken Önlemler
| Sensör kafasının eğim açısının etkisi
Optik eksen hedefe dik değilse, şekil 1’de gösterildiği gibi yükseklik değerinde θ açısı nedeniyle ölçüm hatası meydana gelir. Θ açısı 0,8°’den büyükse, ölçüm hatasının yaklaşık %0,01 olduğu söylenebilir. Bu nedenle, etkisi konusunda herhangi bir endişeye sebep olursa eğimi düzeltmek gerekmektedir. Hazırlanan bir tür ana parça ve ölçeklendirme ayarları sayesinde eğim kolayca düzeltilebilir.
[Şekil 1] A: Optik eksen eğimi θ
| Şeffaf nesneler ve ayna kaplamalı yüzeylere sahip nesneler
Hedef şeffaf veya ayna kaplamalı yüzeye sahip bir nesneyse, sensör kafasını, şekil 2’de gösterildiği gibi, hedefe göre yansıtılan ve alınan ışığın (α) yarısı kadar bir açıyla eğik olarak yerleştirmek gerekmektedir. (Üçgensel ölçüm yönteminin kullanıldığı durumlarda).
Ayrıca söz konusu hedef şeffaf bir nesneyse, düzgün bir şekilde ölçüm yapabilmek için dikkat edilmesi gereken en önemli nokta, şeffaf nesnenin en azından belirlenen değer kadar kalın olması gerektiğidir. Eğer cisim ince bir yapıya sahipse, ön yüzey yüksekliği için ölçülen değer şeffaf cismin arka yüzeyinden yansıyan ışığın etkisiyle olması gerekenden daha düşük ölçülebilir. Dolayısıyla, düzgün bir şekilde ölçüm yapılabilmesini sağlayan minimum kalınlık limitleri sensör kafası tipine, hedefin şeffaflığına ve arka yüzeyin yansıtıcılığına bağlı olarak değişmektedir.
[Şekil 2] A: α/2
Basamak Ölçümü Sırasında Alınması Gereken Önlemler
| Sensör kafasının eğim açısının etkisi
2D lazer deplasman sensörlerinin optik ekseni hedefe dik bir konumda değilse, şekil 3’de gösterildiği gibi basamak değerinde θ açısı nedeniyle ölçüm hatası meydana gelir. Basamak için ölçülen iki nokta arasındaki mesafe (X) ne kadar fazlaysa, ölçüm hatası o kadar büyük olur. Örneğin, θ eğimi 0,1° olsa bile, X = 30 mm ise ölçüm hatasının yaklaşık olarak 50 μm denk geldiği söylenebilir. Bu nedenle, eğim düzeltme özelliği genel olarak basamak ölçümleri yapılırken kullanılır.
[Şekil 3] A: Optik eksen eğimi θ B: Doğru basamak C: Ölçülen değer D: İki nokta arasındaki uzaklık (X)
| Şeffaf nesneler ve ayna kaplamalı yüzeylere sahip nesneler
Basamak ölçümünde ölçülen yüzeylerden en az biri şeffaf veya ayna kaplamalı bir yüzeye sahip bir nesne ise, sensör kafası, şekil 4’te gösterildiği gibi hedefe göre yansıtılan ve alınan ışığın (α) açısının yarısı kadar bir açıyla eğik olarak takılmalıdır.
Ayrıca şeffaf nesneler ve ayna yüzeyli nesnelerle kullanıma ayrılmış bir kafa hazırlamak da gereklidir. Buna karşın, söz konusu hedef şeffaf bir cisimse yüzey yüksekliğinin doğru bir şekilde ölçülebilmesi için en azından belirlenen değer kadar kalın olmalıdır. Cisim ince bir yapıya sahipse ön yüzey yüksekliği için ölçülen değer şeffaf cismin arka yüzeyinden yansıyan ışığın etkisiyle olması gerekenden daha düşük ölçülebilir. Doğru ölçüm yapabilen minimum kalınlık limitleri sensör kafası tipine, hedefin şeffaflığına ve arka yüzeyin yansıtıcılığına bağlı olarak değişmektedir.
[Şekil 4]. Sol: Ön Sağ :Yan A: Şeffaf / Ayna kaplamalı yüzey
Hangi Yöntem Daha Kullanışlıdır? Temaslı / Temassız
| Yumuşak hedeflerin ölçülmesi
Test çubuğu (probe) yumuşak bir hedefle temas ettiğinde hedef sıkıştırılabilir ve dolayısıyla bir tür ölçüm hatasına sebep olur.
Temassız ölçüm sayesinde yumuşak hedefler ve sıvı yüzeyler gibi deforme olabilen hedefler ölçülebilir.
| Işık hedeflerinin ölçülmesi
İnce ve hafif hedeflerin yüzey yüksekliğini doğru bir şekilde ölçebilmek için ve hedefin hava boşluğunda süzülmediğinden emin olabilmek için basılı tutmak gerekir.
Temas ölçümünde, test çubuğuyla (probe) hedef yüzeye bastırılır. Bu sayede, havada süzülen hedefin neden olduğu hatalar ortadan kalkar. Bu nedenle, temaslı yöntem, temassız yönteme göre bu tür ölçümler için daha uygundur.
| Ölçme girintileri
Temassız lazer deplasman sensörleriyle, ölçüm noktası (boyut olarak birkaç mikrometreden yüzlerce mikrometreye kadar değişir) genellikle temaslı ölçümde kullanılan teste çubuklarından (probe) daha küçüktür. Bu sayede, temassız yöntemle daha dar girintilerin taban yüksekliği doğru bir şekilde ölçülebilir.
Uygulama Çözümleri
Genişlik
Uygulama Çözümleri
Dış Çap
İdeal ölçüm sistemini seçebilmek için bilinmesi gereken ölçüm ve ipuçları hakkında her şeyi içeren ve mutlaka okunması gereken bir kılavuz!
Bu kılavuzda, ölçüm sistemlerinin tanıtılmasının yanı sıra kalınlık, dış çaplar, şekil ve daha fazlasını ölçmek için kullanılabilecek en iyi yöntemler ayrıntılarıyla anlatılmıştır.
